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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.].
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Detalles de publicación: New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2003.Edición: 3rd edDescripción: xix, 689 p. : ill. (some col.) ; 26 cm. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.)ISBN: - 9780306472923
- 502/.8/25 S283
Contenidos:
The SEM and its modes of operation - Electron beam-specimen interactions - Image formation and interpretation - Special topics in scanning electron microscopy - Generation of in the SEM Specimen - Qualitative X-Ray analysis
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Código de barras | |
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Libros
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Biblioteca Universidad Regional Amazónica Ikiam | 502/.8/25 S283 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej.1/2 | Disponible | 003493 | |
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Libros
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Biblioteca Universidad Regional Amazónica Ikiam | 502/.8/25 S283 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej.2/2 | Disponible | 003494 |
Además contiene CD.
The SEM and its modes of operation - Electron beam-specimen interactions - Image formation and interpretation - Special topics in scanning electron microscopy - Generation of in the SEM Specimen - Qualitative X-Ray analysis
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