Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / (Registro nro. 1732)
[ vista simple ]
| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 00970cam a22002294a 4500 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20180226112255.0 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 020803s2003 nyua b 001 0 eng |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO (ISBN) | |
| Número Internacional Estándar del Libro (ISBN) | 9780306472923 |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | B-IKIAM |
| 041 ## - CÓDIGO DE LENGUA | |
| Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente | ENG |
| 082 00 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
| Número de clasificación | 502/.8/25 |
| Número de documento/Ítem | S283 |
| 245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / |
| Mención de responsabilidad, etc. | Joseph I. Goldstein ... [et al.]. |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN | |
| Mención de edición | 3rd ed. |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
| Lugar de publicación, distribución, etc. | New York : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. | Kluwer Academic/Plenum Publishers, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. | c2003. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xix, 689 p. : |
| Otras características físicas | ill. (some col.) ; |
| Dimensiones | 26 cm. + |
| Material acompañante/anejo | 1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Además contiene CD. |
| 505 ## - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | The SEM and its modes of operation - Electron beam-specimen interactions - Image formation and interpretation - Special topics in scanning electron microscopy - Generation of in the SEM Specimen - Qualitative X-Ray analysis |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Scanning electron microscopy. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | X-ray microanalysis. |
| 700 1# - ENTRADA SECUNDARIA - AUTOR PERSONAL | |
| Nombre de persona | Goldstein, Joseph, |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Fuente del sistema de clasificación o colocación | Dewey Decimal Classification |
| Código de la institución [OBSOLETO] | B-IKIAM |
| Fecha de Catalogación | 26-2-2018 |
| Tipo de ítem Koha | Libros |
| Catalogador | bv. |
| Fuente del sistema de clasificación o colocación | Localización permanente | Ubicación/localización actual | Fecha de adquisición | Fuente de adquisición | Coste, precio normal de compra | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Número de copia | Tipo de ítem Koha |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Dewey Decimal Classification | Biblioteca Universidad Regional Amazónica Ikiam | Biblioteca Universidad Regional Amazónica Ikiam | 26.02.2018 | Compra | 178.00 | 003493 | 502/.8/25 S283 | 003493 | Ej.1/2 | Libros |
| Dewey Decimal Classification | Biblioteca Universidad Regional Amazónica Ikiam | Biblioteca Universidad Regional Amazónica Ikiam | 26.02.2018 | Compra | 178.00 | 003494 | 502/.8/25 S283 | 003494 | Ej.2/2 | Libros |